菲希尔系列X射线测厚仪镀层测厚仪膜厚仪

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FISCHER实现了快速、精密、准确的X-射线测量仪器，世界*光学准直器，可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成分，测量厚度可以从埃（?）至微米（μm），它也能测量多至20个元素的块状合金成分。其准确度、精密度和稳定性是*的。

型号有XDL/XUL系统、WINWIF系统、WIN系统及FIM系统，其用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。