产 品 说 明
美国OEwaves公司的
Hi-Q光学测试测量系统提供了*自动化地测量连续激光器的超低相位噪声测量。Hi-Q光学测试测量系统能够快速地测量激光相位噪声，评估其线宽的半高宽度低至< 3 Hz,而无需复杂的测试架构可作这样的窄线宽测量。
特点：
▪ 超低相位/频率噪声测量
▪ 快速实时测量
▪ 即刻和扩展的FWHM线宽分析
▪ 不需要低噪声参考光源
▪ 用户友好界面
▪ 简单的基于PC的操作
▪ 3U x 19英寸机架系统
▪ 可定制的配置、升级和选项
光学测试测量系统 | |
型号 | OE4000 |
波长 | 1530 – 1565 nm |
动力学范围 | 60dB |
光学输入功率范围 | +5 to +15 dBm (PM-FC/APC) |
测量类型 | 频率噪声/零差相位 |
数据存储与I/O | HDD / USB端口 |
带宽分辨率 | 0.1 Hz – 200 kHz |
电源电压 | 110 / 120 or 220 / 240 Vac ; 50 / 60Hz |
光学测试测量系统尺寸 | 3U x 19英寸机架式 |
低或高输入功率范围 | 可选 |
波长范围(可选) | 740 – 935 / 965 – 1065 / 1000 – 1100 / 1260 – 1360 / 1530 – 1625 / 1950 – 2150 (nm) (选择多波长范围以及定制波长范围请咨询) |
可选择的配置：
▪ 在630 nm - 2200 nm范围内多个输入波段
▪ 超低噪声基底
▪ 相对强度噪声测量
▪ 扩展的偏移频率范围可达2 GHz
▪ 扩展的输入功率范围
▪ 远程操作
▪ 性能和频率
▪ 定制范围选择和升级
