X射线应力检测仪使用X射线衍射法来测量残余应力和残余奥氏体，适用于所有多晶体材料（包括陶瓷）。
X射线表面残余应力分析仪主要对各种多晶体材料进行残余应力和残余奥氏体分析和研究，它以计算机为微处理机，采用高精度探测技术、数据准确和可靠，不需要水冷，方便安装和移动使用，系统超高灵敏度，适合测量的材料范围广，配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力，便携方便，可在实验室和野外现场测量。
X射线应力检测仪主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。
主要特点：
具有自动校准功能，方便操作
自动对焦功能，可以根据物体距离自动调节
激光定位：保证了测量的准确性
设备重量轻，方便携带
测角仪有效的避免了探臂式结构的干扰现象
主要特性：
1)适用于残余应力、残余奥氏体含量测定。
2)仪器稳定性好，重现性好，尤其适合现场快速分析。
3)采用计算机数据处理系统，更适用于对多个样品的联测。
5)界面美观，功能强大，操作简单方便。
6)测角仪采用了叠步倾转设计，侧头下部结构简单，在测量管材内壁或机轴凸角等复杂部位时十分方便。
7）软件更丰富、测试方法及可靠性更优。
